ICS 17.220 SJ CCS L 85 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11820——2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 Technology requirements and test methods for discrete semiconductor DC parameters test instruments 2023-01-01实施 2022-10-20发布发布中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T 11820—2022 前言本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国电子测量仪器标准化技术委员会提出并归口。本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司。本文件主要起草人：刘冲、李洁、张珊、胡鹏、末有聚

SJ-T 11820-2022半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

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本文档由人生无常于 2024-10-27 16:18:37上传分享

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