SJ-T 11845.2-2022基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分_光电耦合器件

ICS 31.080.01 CCS L 50 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 11845.2—2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第2部分：光电耦合器件 Reliability evaluation methods for electronic components and devices based on low frequency noise--Part 2:Photocouplers 2023-01-01实施 2022-10-20发布中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11845.2—2022 目次前言 1范围. 规范性引用文件 2 术语和定义 3 一般要求. 5详细要求 5.1噪声分级 5.2噪声测试的技术要求 5.3详细噪声分级 6方法应用 6.1设计及工艺稳定性评价 SJ/T11845.2—2022 前言本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件是《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》的第2部分。 SJ/T11845《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》分为若干部分：第1部分：通用要求；第2部分：光电耦合器件；第3部分：二极管；第4部分：电阻器 . 本文件由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组提出并归口。本文件起草单位：中国运载火箭技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司西安电子科技大学司、中国电子科科技集团公司第四十京瑞普北光电子苏州半导体总四研究所，为科技有限公司限公司、深全要起草人：本文件王四新、熊盛阳、旅伟、包军林、余永涛赵艇春雷、王君、顾惠萍、李兆成、孙立军、 TRY

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