SJ-T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分二极管

ICS 31.080.10 SJ CCSL41 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11845.3—2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分：二极管 Reliability evaluation methods for electronic components and devices based on lowfrequencynoisePart3:Diode 2022-10-20发布 2023-01-01实施发布中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T11845.3—2022 目次前言范围规范性引用文件 2 3术语和定义一般要求。 4 5详细要求. 5.1噪声等级 5.2噪声测试的技术要求 5.3评价方法 6方法应用 6.1设计及工艺稳定性评价 6.2批次一致性分析及筛选 SJ/T11845.3—2022 前言本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件是《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》的第3部分。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本文件由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组提出并归口。本文件起草单位：济南市半导体元件实验所、西安电子科技大学、工业和信息化部电子第五研究所、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司深圳市量为科技有限公司。姜亚南人侯香萍、李兆成、孙立军。 SU D I

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本文档由人生无常于 2024-10-27 16:24:04上传分享